하향식:
깊이 우선 / 넓이 우선 모두 사용 가능
상위 모듈에선 테스트 케이스 사용하기 어려움
상향식:
밑에서부터 시작하므로 스텁 필요 없음
하위 모듈들을 클러스터로 그룹화하고 드라이버가 이 클러스터를 호출하여 테스트
클러스터는 하나의 메인 제어모듈과 여러 종속 모듈로 구성됨. 이 그룹이 하나의 기능적 단위로 테스트됨
스텁과 드라이버는 단위테스트나 통합테스트 등 특정 테스트 단계에 얽매인 개념이 아님
